带有XTrace微点X射线源的Micro-XRF将完整的micro-XRF光谱仪的功能添加到扫描电子显微镜中。 XTrace适用于几乎任何SEM的自由倾斜腔室端口。用户可以从微量元素灵敏度和XRF分析的更高信息深度中受益。

　　用户友好的用于SEM的Micro-XRF系统

　　使用HyperMap进行分布分析可存储每个地图点的完整光谱，以进行在线和离线分析可以使用Micro-XRF和EDS分析样品而无需改变位置这两种方法都集成在同一个分析软件套件中 - ESPRIT 2.0不干扰正常的SEM操作，XTrace可以在大多数时间保持在其测量位置。

　　完整的micro-XRF光谱仪，无需投资

　　分析结果与独立系统的结果相比较

　　图像平铺允许映射大区域

　　可选择的初级辐射滤波器，以抑制衍射峰

　　使用SEM电动载物台

　　允许样品倾斜以产生最小光斑尺寸。

　　易诺与美国伊诺斯公司（Innov-X）开发生产的伊诺斯Innov-X光谱仪有着良好的合作关系。