随着工业生产自动化水平的提升以及生产流程安全高效运行要求不断提高，行业对各类材料以及零部件的成分检测提出了更高的要求。易诺科技奥林巴斯提供一系列基于X射线表征材料的仪器，可使客户在需要时随时随地进行检测分析。

X射线衍射（XRD）分析仪BTX III XRD是一款机身小巧的台式分析仪，可以为用户提供矿物主要成分和次要成分的可靠的定量性矿物学信息。这款分析仪将性能强大的软件和改进的X射线探测器结合在一起使用，提高了检测的速度和灵敏度。

BTX III台式XRD分析仪

同样在检测分析方面有着出色表现的VANTA Element-S手持式X射线荧光（XRF）分析仪，吸引了众多专业人士的咨询、体验。在对材料进行分拣的过程中，庞大的数据量以及杂乱的材料常常导致检测的开展十分缓慢。VANTA Element-S分析仪配备硅漂移探测器（SDD），可对元素进行分析，并在几秒内对合金进行牌号辨别和分拣，能够快速有效地测量黑色金属、铝、铜、不锈钢、镍和金的含量。